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          離子遷移現象的捕捉

          2021.07.19

          離子遷移現象的捕捉

          高速與時時抽樣的效果與重要性

           

          什么是離子遷移現象?

          形成枝晶是電極間短路的現象。

          離子遷移現象的特征:

          會在良好的絕緣的狀態下突然發生。

          短路的瞬間,因為自身電流的能量(焦耳熱),枝晶被燒損,然后恢復絕緣電阻。

          所以很容易變成瞬間的絕緣劣化現象。

           

          離子遷移的信賴性試驗的作用:

          在某些領域是重大故障

          即便是瞬間的短路現象,在現在高速數字化處理電路中誘發錯誤動作,在某些情況,有發展成為重大故障的風險。

           

          試驗方法是否有效?

          現廣泛被使用的槽外計測,離子遷移現象是檢測不出的。所以,NG的測試樣品也直接被認定OK了。

           

          市面上的遷移試驗裝置是否都能進行準確檢測?

          離子遷移是瞬間現象。即便是持續的監視試驗裝置,通道掃描或數據處理需要一定時間,正確地捕捉現象進行適當的處理就變得很難。

           

          作為試驗裝置的重要事項

          有能力準確檢測出發生枝晶的瞬間短路現象。

          在多個樣品同時測試中,什么時候哪個樣品發生離子遷移,都可以檢測到。

          為了預防枝晶燒損,顯微鏡觀察時等的證據可以查看。

           

          高速抽樣處理

          J-RAS是業界最高速,16msec62.5S/s)。

          能夠進行離子遷移的瞬間現象捕捉。

          不只是單一的短路現象事件,而是作為電阻值的連續數據被記錄。

           

          因離子遷移現象導致的電阻值變化如以下情況:

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          高速抽樣處理的情況:

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          抽樣處理慢的情況:

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          高速與普通處理,檢測結果有很大偏差:

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          全部通道同時抽樣處理:

          J-RAS是所有通道的數據同時抽樣處理。

          假如離子遷移現象同時多個通道發生,數據也不會漏掉。更準確高效得檢測樣品。

          多個通道同時發生離子遷移現象的情況如下:

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          單一AD掃描的話,與通道數成反比例,發生通道數越多越不準確。

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          每個通道都分別配有AD,可以同時監測所有通道。

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          J-RAS的模擬電路能夠防止枝晶燒損

          設備配有電流限制電路,即便枝晶短路,也不會給樣品輸入超范圍的電力。

          高速16msec的抽樣處理,及時檢出電阻值低下,把模擬電路的偏壓輸出功率及時停止。(根據判定條件設定)

           

          高速、多通道同時抽樣,J-RAS能夠大量數據并行處理。

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          簡而言之,J-RAS設備的高速、多通道并行處理,能夠更可靠的檢測出遷移現象。


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